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45nm二氧化硅粒度标准物质_
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45nm二氧化硅粒度标准物质

BW030109 {{goodObj.price > 0 ? '¥' + goodObj.price : '咨询'}} ¥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨询 10mL {{goodObj.date}} 海岸鸿蒙 {{item.norm}} 国含量1% {{inventory}}
45nm二氧化硅粒度标准物质介绍:

货号:BW030109
CAS号:
规格:10mL
浓度:国含量1%

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国家标准: 粒度分析 动态光散射法(DLS)
标准名称及标准号 GB/T 19627-2005 粒度分析 动态光散射法(DLS)
适用范围 适用于液体介质中纳米级颗粒(如45nm二氧化硅)的粒度分布测定,测量范围1nm~10μm。
核心检测方法 动态光散射法(DLS):通过测量颗粒布朗运动引起的散射光强度波动,推算扩散系数及粒度分布。
检出限与定量限 检出限为1nm(信噪比≥3),定量限为5nm(相对标准偏差≤10%)。
质控样品要求 标准物质需满足均匀性(RSD≤3%)、稳定性(有效期≥12个月),浓度范围0.01%~1%(w/v)。
关键实验步骤 1. 样品分散:超声处理10分钟,避免团聚;
2. 仪器校准:使用标准聚苯乙烯微球验证;
3. 数据采集:连续测量3次,取平均值。
特别说明 1. 测试温度需控制在25±1℃,避免温度波动影响扩散速率;
2. 高浓度样品需稀释至光强衰减率<20%;
3. 结果报告中需注明分散介质及测量模型(如Cumulants分析)。

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