二氧化硅质控样_单标_基质类_标准物质_萘析商城

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二氧化硅质控样

SDSZ130143-4

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20mL

山冶

4(µg/mL)

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二氧化硅质控样介绍：

介质：1.0g/LNa2CO3/(0.1%Na2CO3)

组分	浓度
-	4(µg/mL)

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本公司销售的所有产品仅供实验科研使用，不用于人体及临床诊断。

标准名称及标准号

GB/T 30449-2013《纳米二氧化硅》

适用范围

本标准适用于纳米二氧化硅粉体及分散液的质量控制，涵盖纯度、粒径分布、比表面积等关键指标检测。

核心检测方法

二氧化硅含量测定采用分光光度法（钼蓝法），通过硅酸与钼酸铵生成硅钼黄络合物，还原后测定吸光度；粒径分布通过动态光散射法（DLS）或透射电镜（TEM）分析。

检出限与定量限

分光光度法检出限为0.05 mg/L，定量限为0.2 mg/L；动态光散射法粒径检测下限为1 nm，比表面积测定误差≤±5%。

质控样品要求

质控样品需与待测样品基体匹配，浓度范围覆盖实际检测需求，均匀性和稳定性需通过重复性测试验证（RSD≤3%）。

关键实验步骤

1. 样品前处理：消解或分散至无可见颗粒；
2. 标准曲线绘制：至少5个浓度梯度；
3. 仪器校准：每日使用前校验光路及基线；
4. 平行测定：每个样品至少3次重复。

特别说明

实验过程中需避免使用含硅器皿（如玻璃），防止污染；高盐基体样品需进行稀释或基体匹配，磷酸盐可能干扰钼蓝法测定。

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