锗粒6N
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土壤中有效磷分析质控样品
NCS192387 | 见证书
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不锈钢光谱分析标准化样品
NCS201071b | 见证书
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土壤中硫酸根分析质控样
NCS204223-1 | 0.259g/kg
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硅钢光谱分析质量控制样品
NCS012092c | 见证书
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高镍生铁光谱分析质量控制样品
NCS010036b | 见证书



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GB/T 11066-2008《锗化学分析方法》
适用于高纯锗(6N纯度)中杂质元素的测定,包括砷、铁、铜、镍等34种痕量元素,检测范围0.01-50 μg/g
1. 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定痕量金属杂质
2. 氢化物发生-原子荧光光谱法测定砷、硒等元素
3. 石墨炉原子吸收光谱法(GFAAS)测定重金属元素
1. 每批次需包含空白样、平行样和加标回收样
2. 使用NIST SRM 3132a锗标准物质进行校准
3. 平行样相对偏差≤10%,加标回收率85%-115%
1. 样品前处理:
称取0.5000g锗粒,用HNO₃-HF(3:1)混酸在120℃密闭消解2小时
2. ICP-MS分析:
① 使用内标法(Rh、Re内标)
② 碰撞反应池模式消除干扰
③ 三点校准曲线法(R²≥0.999)
3. 砷的测定:
氢化物发生条件:1.5% KBH₄溶液,6mol/L HCl介质
1. 锗粒消解需在通风橱中进行,防止HF接触皮肤
2. 使用高纯试剂(≥UP级)和亚沸蒸馏水
3. 实验室环境要求洁净度CLASS 1000
4. 仪器需定期进行质量校正和分辨率验证
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