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硅钢光谱分析质量控制样品

NCS012092b

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Φ38×35mm

钢研纳克

见证书

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硅钢光谱分析质量控制样品介绍：

产品组成：

编号	C	Si	Mn	P	S	Cr	Ni	Cu	Ti	Mo
NCS012092b	0.0024	3.17	0.305	0.022	0.0022	0.040	0.0092	0.0047	0.0052	0.0018

编号	V	As	Nb	B	Sn	N	Ca	Alt	Als
NCS012092b	0.0024	0.016	(0.0005)	0.0002	0.053	(0.015)	0.0005	0.96	0.90

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本公司销售的所有产品仅供实验科研使用，不用于人体及临床诊断。

标准名称及标准号

GB/T 4336-2016《碳素钢和中低合金钢多元素含量的测定火花放电原子发射光谱法》

适用范围

适用于硅钢等碳素钢和中低合金钢中碳、硅、锰、磷、硫、铬、镍等元素的定量分析，元素含量范围覆盖硅钢典型成分（如Si:0.10%-3.50%）。标准规定了火花源原子发射光谱法的操作流程和质量控制要求。

核心检测方法

火花放电原子发射光谱法（Spark-OES）：
1. 样品作为电极在氩气环境中产生高压火花放电
2. 原子被激发后产生特征发射光谱
3. 分光系统按波长分离特征谱线
4. 光电检测器测量谱线强度
5. 通过校准曲线将强度值转换为元素含量

检出限与定量限

典型元素在硅钢中的检测能力：
- 硅(Si)：定量限0.01%
- 铝(Al)：检出限0.0005%
- 碳(C)：定量限0.002%
- 锰(Mn)：定量限0.005%
实际检测限取决于仪器性能、基体效应和样品制备质量

质控样品要求

1. 基体匹配：必须与待测硅钢样品具有相同的冶金工艺和基体组成
2. 定值要求：使用有证标准物质(CRM)，证书需包含不确定度信息
3. 含量梯度：至少3个浓度梯度覆盖待测元素的全范围
4. 物理状态：块状样品尺寸≥Φ30mm×15mm
5. 均匀性：经均匀性检验，表面无气孔夹杂

关键实验步骤

1. 样品制备：砂纸逐级打磨至800#，表面粗糙度Ra≤3.2μm
2. 仪器校准：每日使用高/低标样建立校准曲线，R²≥0.999
3. 预激发处理：氩气冲洗后预燃5-10秒消除夹杂物影响
4. 数据采集：每个样品至少3次有效激发，剔除异常值
5. 漂移校正：每10个样品插入质控样校正仪器漂移
6. 结果验证：使用独立来源的验证样品比对分析

特别说明

1. 硅钢特殊处理：高硅样品需降低预燃能量防止白口化
2. 干扰校正：Fe 271.4nm谱线作为内标校正基体效应
3. 氩气纯度：≥99.999%，含氧量≤5ppm
4. 环境控制：温度(23±2)℃，湿度≤60%RH
5. 异常结果处理：当质控样偏差＞2σ时需重新校准
6. 标准更新提示：注意GB/T 4336-2016替代了2002版方法

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