硅单晶电阻率标准物质_单标_基质类_标准物质_萘析商城

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硅单晶电阻率标准物质

GBW13705

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套/4片

中国计量院

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硅单晶电阻率标准物质介绍：

使用注意事项：使用时用镊子取出标准物质片，放置测量样片台上
特征形态：固态
基体：硅单晶材料
主要分析方法：
定值单位：中国计量科学研究院
规格：套/4片
定级证书量值信息：

	标准值	相对不确定度(%)	单位	CAS	备注
电阻率标称值	10	3	电阻率标称值(·cm)
径向不均匀度（％）（距边缘6mm以内）	3	1.5	径向不均匀度(%)

保存条件：
保存条件：干净通风干燥的地方保存
研制单位名称：中国计量科学研究院

以上信息仅供参考，请以实物批次为准！

标准名称	GB/T 1551-2016《硅单晶电阻率测定方法》
适用范围	适用于硅单晶材料在室温（23±1℃）下的电阻率测量，测量范围0.001 Ω·cm~100 Ω·cm。

核心检测方法

采用四探针法，通过线性排列的四探针施加恒定电流并测量电压差，计算电阻率。

检出限与定量限

检出限为0.0005 Ω·cm，定量限为0.001 Ω·cm，误差范围≤±5%。

质控样品要求

需使用经认证的标准物质校准设备，样品表面粗糙度Ra≤0.1 μm，厚度≥0.5 mm，且无可见缺陷。

关键实验步骤

1. 样品表面清洁（乙醇超声处理）；
2. 探针间距校准；
3. 电流源稳定输出（推荐1 mA~100 mA）；
4. 多点测量取平均值。

特别说明

高阻样品（>10 Ω·cm）需屏蔽环境电磁干扰，低阻样品需控制测量时间避免温升影响。

以上信息仅供参考，请以相应标准的原文为准！